Каталог документов NormaCS

Документы раздела 29.045  Полупроводниковые материалы

Показать легенду

 ГОСТ 19014.0-73 - Кремний кристаллический. Общие требования к методам химического анализа
 ГОСТ 19014.1-73 - Кремний кристаллический. Методы определения алюминия
 ГОСТ 19014.2-73 - Кремний кристаллический. Методы определения железа
 ГОСТ 19014.3-73 - Кремний кристаллический. Методы определения кальция
 ГОСТ 19014.4-73 - Кремний кристаллический. Методы определения титана
 ГОСТ 19658-81 - Кремний монокристаллический в слитках. Технические условия
 ГОСТ 2169-69 - Кремний технический. Технические условия
 ГОСТ 22265-76 - Материалы проводниковые. Термины и определения
 ГОСТ 22622-77 - Материалы полупроводниковые. Термины и определения основных электрофизических параметров
 ГОСТ 26239.0-84 - Кремний полупроводниковый, исходные продукты для его получения и кварц. Общие требования к методам анализа
 ГОСТ 26239.1-84 - Кремний полупроводниковый, исходные продукты для его получения и кварц. Метод определения примесей
 ГОСТ 26239.2-84 - Кремний полупроводниковый, исходные продукты для его получения и кварц. Методы определения бора
 ГОСТ 26239.3-84 - Кремний полупроводниковый, исходные продукты для его получения и кварц. Методы определения фосфора
 ГОСТ 26239.5-84 - Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей
 ГОСТ 26239.6-84 - Кремний четыреххлористый. Метод определения дихлорсилана, трихлорсилана, тетрахлорида кремния, 1,3,3,3-тетрахлордисилоксана, 1,1,3,3-тетрахлордисилоксана, пентахлордисилоксана, гексахлордисилоксана, гексахлордисилана
 ГОСТ 26239.7-84 - Кремний полупроводниковый. Метод определения кислорода, углерода и азота
 ГОСТ 26239.8-84 - Кремний полупроводниковый и исходные продукты для его получения. Метод определения дихлорсилана, трихлорсилана и тетрахлорида кремния
 ГОСТ 4.64-80 - Система показателей качества продукции. Полупроводниковые материалы. Номенклатура показателей
 ГОСТ Р 71334-2024 - Структуры эпитаксиальные. Метод измерения толщины эпитаксиальных слоев кремния в структурах типа кремний на сапфире на основе инфракрасной интерференции
 ГОСТ Р 71380-2024 - Пластины полупроводниковые и диэлектрические. Метод контроля закругленности края
 ГОСТ Р 71422-2024 - Структуры эпитаксиальные и пленки диэлектрические. Метод измерения толщины эпитаксиальных слоев арсенида галлия на основе сферического шлифа
 New ГОСТ Р 71645-2024 - Кремний полупроводниковый. Метод измерения концентрации примесей
 Проект ГОСТ - Кремний кристаллический. Общие технические условия
 Проект ГОСТ Р - Микросхемы интегральные. Аналого-цифровые преобразователи. Методы измерения времени преобразования