| Каталог документов NormaCS
ГОСТ Р 57394-2017 Микросхемы интегральные и приборы полупроводниковые. Методы ускоренных испытаний на безотказность
ГОСТ Р 57394-2017 Микросхемы интегральные и приборы полупроводниковые. Методы ускоренных испытаний на безотказностьСтатус: Информация о статусе доступна в коммерческой версии NormaCS. ИУС 7-2017 Текст документа: присутствует в коммерческой версии NormaCS Страниц в документе: 46 Утвержден: Росстандарт, 02/27/17 Обозначение: ГОСТ Р 57394-2017 Наименование: Микросхемы интегральные и приборы полупроводниковые. Методы ускоренных испытаний на безотказность Ключевые слова: полупроводниковые приборы, интегральные микросхемы, методы ускоренных испытаний на безотказность, кратковременные испытания, длительные испытания. Дополнительные сведения: доступны через сетевой клиент NormaCS. После установки нажмите на иконку рядом с названием документа для его открытия в NormaCS
![ГОСТ Р 57394-2017 Микросхемы интегральные и приборы полупроводниковые. Методы ускоренных испытаний на безотказность](http://data.normacs.ru/getdocth.jsp?docid=11Q1A)
Пожалуйста, дождитесь загрузки страницы... Документ ссылается на:
Показать легенду ГОСТ 16504-81 - Система государственных испытаний продукции. Испытания и контроль качества продукции. Основные термины и определения
ГОСТ 18725-83 - Микросхемы интегральные. Общие технические условия
ГОСТ 20.57.406-81 - Комплексная система контроля качества. Изделия электронной техники, квантовой электроники и электротехнические. Методы испытаний
ГОСТ 27.002-2015 - Надежность в технике. Термины и определения
Федеральный закон 162-ФЗ - О стандартизации в Российской Федерации
На документ ссылаются:
Показать легенду Приказ 217 - О закреплении документов национальной системы стандартизации за техническим комитетом по стандартизации "Изделия электронной техники, материалы и оборудование" (ТК 303)
Проект ГОСТ Р - Микросхемы интегральные на общей пластине и приборы полупроводниковые на общей пластине и разделенные на кристаллы. Порядок приемки и поставки
|